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FT 平移式分选设备

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FT 平移式分选设备

CIS（CMOS Image Sensor）平移分选测试机是一种用于CMOS图像传感器芯片的自动化测试与分选设备，重要利用于半导体造作的后路工序。其主题职能是通过高精度平移机械臂将芯片移动到测试工位，实现电性测试、光学机能测试。

利用场景: CIS，光通讯，MEMS，存储芯片，功率器件等。

产品征询电话：13811928592（毛总）
产品征询邮箱：jian.mao@incubecn.com

  • 适应芯片封装规格：QFP, BGA, Micro-BGA, PLCC, TSOP, CSP, PGA

  • 专为TT功夫长的大批量出产设计的多位测试能力

  • 更高的UPH满足急剧出产需要

  • 在大规模运行中仍维持低故障率

  • 高精度视觉对位取放料

  • 自动调整产品取放吸吹力

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